С. У. Увайсов, В. В. Черноверская, и Ф. Л. Куок Хань, «Разработка метода ударной диагностики для выявления дефектов электронных средств», Журнал Вестник Международного университета природы, общества и человека «Дубна». Серия «Естественные и инженерные науки», вып. 1(46), сс. 48–55, авг. 2021.